一、 电容器损耗与检测
      电容器的损耗由介质损耗和金属局部损耗组成。介质损耗是由介质自身决议，即由介质薄膜的功能??漏导惹起的。当运用频率很低时，电容器的损耗首要由介质损耗决议。其值随频率上升而成反比下落。 （漏导：任何电介质都不是抱负的绝缘体，在电场的效果下，总有必定的电流流过，这种电流很小，称作漏导电流或漏导。） 金属局部损耗，其公式为：tgδ=ωcRs=2πfcRs(R为电容器等效串联电阻)，因此当运用频率很高时，金属局部损耗为
      首要损耗。Rs由电容器引出线电阻、极板电阻、极板与引出线之间衔接惹起的触摸电阻总和。若是衔接欠好，触摸电阻较大，那么电容器在高频情况下的损耗就很大。使得电容器在高频情况下运用，发热严峻，招致损坏。因此运用频率较高时，必须用高频测验，除掉端面触摸不良者。尽量消除运用时的潜在风险。而用低频1KHz就不能很好有效地除掉触摸不良者。何况，CBB类1KHz损耗方针为≤0.0003，数值偏小，有时测验外表之间的差错能够到达0.0002。因此，主张对用在运用频率较高的灯上时，至少用10KHz测验，方针≤0.0010，更有掌握。我公司在给上海光达照明公司、深圳垅运（中电）照明公司等出产灯和镇流器的厂家供货，都用10KHz检测，多年来，包管了它们完好无缺的运用。
      二、电容器耐压与检测
      薄膜电容器介质的厚度是以其额外电压巨细来拔取的，即介质厚度决议着额外电压的巨细，其相互关系见下表：（此处加表）其任务电压，在频率适合的情况下，普通应不大于额外电压。而瞬时接受电压，即耐电压，按国际国内规范最大测验电压为2倍电压，重复进行耐电压实验对电容器有损伤，因此过高的耐电压超越介质薄膜的接受有力，会损伤介质对电容器也是晦气的。颠末咱们多年的实验，这些潜在的风险，会削减其运用寿命。因此主张客户给出的电容器耐电压方针应不大于2倍。并且在这种条件下，电容器厂家为了更好地包管客户运用，还要高于2倍进行内控，但这些余量咱们也是靠添加介质厚度来包管的。若是客户给大于2倍乃至3倍的方针，那咱们仍要加严，这样无限制的加下去，对电容器是一种危害，对照明产物也是一种危害，即便其时出产、检测过程中没有表现出来，可是却为日后用户的运用埋下了危险，这对电容器供应商，照明产物制造商及消费者三方都是晦气的。由于咱们一起的方针就是满意消费者的运用。
      三、金属化内串电容器与箔式内串电容器的差异
      1.电容器的好坏，除用容量、损耗、绝缘、耐压四个基本参数衡量检测外。它的耐脉冲电压冲击和接受电流巨细等功能也是需求思索的。在灯的电路中运用的电容器这两点更需求注意。鉴于这两点功能的思索，脚距为10的体积较小的金属化内串欠好脚距为15体积较大的箔式内串的布局，由于金属化内串布局的极板与引出的衔接端面是介质薄膜，而该衔接部位的触摸电阻较大，加脉冲时，霎时流过的电流很大，惹起发热，而塑料薄膜介质不耐热，遇热缩短，形成端面触摸恶化，使等效串联电阻更大，如此，恶性循环，会很快使薄膜电容失效，而铝箔做端面的肉串布局，端面极板与引出线相衔接的局部是金属铝，金属耐热，因此加上脉冲，有大电流流过期，发生的热量不会使其缩短，仍能包管端面杰出的触摸。所以，从耐脉冲击视点思索，箔式内串分压布局优于金属化内串布局。
      2.电流流过的途径是极板、触摸端面、引出线这几个金属局部及其衔接处，在引出线一样，不思索触摸电阻的情况下，金属化电极的电阻要大于箔式电极电阻两个数量级。由于金属化电极是在介质薄膜外表蒸镀上一层薄薄的金属铝，其厚度不过0.05～0.1um。而铝箔的厚度为6um，因此，金属化电极极电阻要远大于箔式电极的电阻，使得金属局部的损耗大于箔式。尤其是频率较高时，在流过电流一样时，金属化电极发热远大于箔式电极。因此运用频率较高、电压较大时，不宜选用金属内串布局的电容。